Наверх
Оборудование BRAND
Оборудование для материаловедения и металлографии
ИСП-спектрометры
Картирование и дендрометрические измерения
Инвертированные микроскопы
Компьютерные томографы
Испытание материалов
Анализаторы размеров частиц
Атомно-абсорбционные спектрометры
Инфракрасные микроскопы
Масс-спектрометрия
Молекулярная спектроскопия
Монохроматоры
Пробоподготовка
Расходные материалы
Сканирующая зондовая микроскопия
Спектрометры комбинационного рассеяния (рамановские)
Хроматография
Спектрофотометры
Элементный анализ
+7 (4852) 32-05-24
+7 (4852) 32-05-24
E-mail: info@newstyle-y.ru
Ярославль, пр. Ленина, 15

Платформа AxION

Арт. PE-40

AxION 2 TOF MS

Арт. PE-41

AxION Direct Sample Analysis (DSA)

Задать вопрос