Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУФизикаУчебные установкиКвантовая физикаОпределение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии

Определение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии

Артикул: ФКЛ-21

Определение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

МОДЕЛЬ ДЛЯ ЭКСПЛУАТАЦИИ С МОНОХРОМАТОРОМ МУМ-01

Учебная установка позволяет получить с помощью дифракционного монохроматора МУМ-01 профиль эмиссионной линии излучения полупроводникового лазера и светодиода. По полученным экспериментальным данным рассчитывается ширина запрещенной зоны эмиссионного участка полупроводника и светодиода. Конструктивно учебный модуль состоит из нескольких блоков, совмещённых в едином комплексе: монохроматора МУМ-01, стабилизированного блока питания для лазера и светодиодов и блока измерения интенсивности фотоэмиссии. Интенсивность излучения измеряется фотодатчиком, размещенным на выходной щели монохроматора, сигнал с которого подаётся на цифровой микроаперметр с вмонтированной измерительной схемой. Микроамперметр регистрирует фототок, который пропорционален интенсивности спектральной линии.

Задать вопрос

Нажимая кнопку «Отправить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных