Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУФизикаУчебные установкиКвантовая физикаОпределение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии

Определение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии

Артикул: ФКЛ-21

Определение ширины запрещённой зоны полупроводника по фотоэмиссии

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

МОДЕЛЬ ДЛЯ ЭКСПЛУАТАЦИИ С МОНОХРОМАТОРОМ МУМ-01

Учебная установка позволяет получить  с помощью  дифракционного монохроматора МУМ-01 либо спектрометра ПЭ-5300 профиль эмиссионной  линии  излучения  полупроводникового  лазера  и  светодиода. По полученным экспериментальным данным рассчитывается  ширина  запрещенной  зоны  эмиссионного  участка  полупроводника  и светодиода. Конструктивно учебный модуль состоит из нескольких блоков, совмещённых в едином комплексе: монохроматора МУМ-01, стабилизированного блока питания для лазера и светодиодов и блока измерения интенсивности фотоэмиссии. Интенсивность излучения измеряется фотодатчиком, размещенным  на  выходной  щели  монохроматора, сигнал с которого подаётся на цифровой микроаперметр с вмонтированной измерительной схемой. Микроамперметр  регистрирует  фототок,  который пропорционален интенсивности спектральной линии.

Задать вопрос