Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаОптикаИнтенсивность дифракции на множестве щелей и дифракционной решетке

Интенсивность дифракции на множестве щелей и дифракционной решетке

Артикул: P2230401

Интенсивность дифракции на множестве щелей и дифракционной решетке

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип:
Множество щелей с одинаковой шириной и расстоянием друг между другом, а также дифракционные решётки с разными постоянными решетки освещаются лучом лазера. При помощи подвижного фотодиода определяются соответствующие дифракционные картины, в зависимости от их положения и интенсивности.

Задачи:

  1. Определить координату первого минимума интенсивности при помощи одинарной щели, и на основе полученного значения рассчитать ширину щели.
  2. Определить распределение интенсивности дифракционных картин трехкратной, четырехкратной и даже пятикратной щели, где все щели имеют одинаковую ширину и находятся на одном и том же расстоянии друг от друга. Определить отношения интенсивности центральных пиков.
  3. Для просветных дифракционных решеток с различными постоянными решетки определить положение пиков различных порядков дифракции и при помощи полученного значения рассчитать длину волны лазерного луча.

Изучение:

  • Закон принципа Гюйгенса
  • Закон интерференции
  • Дифракция Фраунгофера и закон Френеля
  • Закон слаженности
  • Закон лазера

Задать вопрос