Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Оборудование PHYWE (Германия)›Физика›Оптика›Интенсивность дифракции на множестве щелей и дифракционной решетке
Интенсивность дифракции на множестве щелей и дифракционной решетке
Артикул: P2230401
Цена: предоставляется по запросу
Принцип:
Множество щелей с одинаковой шириной и расстоянием друг между другом, а также дифракционные решётки с разными постоянными решетки освещаются лучом лазера. При помощи подвижного фотодиода определяются соответствующие дифракционные картины, в зависимости от их положения и интенсивности.
Задачи:
- Определить координату первого минимума интенсивности при помощи одинарной щели, и на основе полученного значения рассчитать ширину щели.
- Определить распределение интенсивности дифракционных картин трехкратной, четырехкратной и даже пятикратной щели, где все щели имеют одинаковую ширину и находятся на одном и том же расстоянии друг от друга. Определить отношения интенсивности центральных пиков.
- Для просветных дифракционных решеток с различными постоянными решетки определить положение пиков различных порядков дифракции и при помощи полученного значения рассчитать длину волны лазерного луча.
Изучение:
- Закон принципа Гюйгенса
- Закон интерференции
- Дифракция Фраунгофера и закон Френеля
- Закон слаженности
- Закон лазера
← Назад