Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаФизика твердого телаПолучение атомарного разрешения на поверхности графита

Получение атомарного разрешения на поверхности графита

Артикул: P2532000

Получение атомарного разрешения на поверхности графита

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип:

Острый металлический наконечник подносят к электропроводящему образцу путем приложения электрического поля, что приводит к возникновению тока между зондом и образцом без какого-либо механического контакта. Этот так называемый туннельный ток используется для исследования электронной топографии на вспомогательном нанометровом масштабе поверхности свежеприготовленного графита (ВОПГ). При сканировании наконечника построчно изображается атомная поверхность графита и гексагональная структура.

 

Задачи:

  1. Подготовить наконечник Pt-Ir и графит (ВОПГ) образец и поднести наконечник к образцу.
  2. Получение топографии поверхности исследуемого образца в режиме постоянного туннельного тока
  3. Изобразить расположение атомов графита на чистой террасе с помощью  оптимизации туннелирования и параметров сканирования. Интерпретировать структуру на основе анализа углов и расстояний между атомами и атомными рядами и с помощью 2D и 3D графитовых моделей.
  1. Измерить и сравнить изображения в режиме постоянного тока постоянной высоты.

 

 Основные термины:

  • Туннельный эффект
  • Шестигранные структуры
  • Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)
  • Изображения на вспомогательном нанометровом масштабе
  • Пьезоэлектрические устройства
  • Локальная плотность состояний (ЛПС)
  • Режим постоянной высоты
  • Режим постоянного тока

ПО в комплекте. Компьютер не предоставляется.

Задать вопрос

Нажимая кнопку «Отправить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных