Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаНанофизикаМетоды визуализации микро и наноструктур с помощью ACM

Методы визуализации микро и наноструктур с помощью ACM

Артикул: P2538000

Методы визуализации микро и наноструктур с помощью ACM

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип:

Приближение острого силиконового наконечника, установленного на консоли, к поверхности образца приводит к межатомным взаимодействиям. Результатом является изгиб консоли, который фиксируется лазерным прибором. В статическом режиме полученное отклонение используется для исследования топографии поверхности образца, линия за линией с использованием цепи обратной связи. В динамическом режиме консоль колеблется на фиксированной частоте, приводя к уменьшающейся амплитуде вблизи поверхности. Параметры измерения (заданная величина, усиление обратной связи, ...) играют важную роль для качества изображения. Зависимость от качества снимков исследуется для различных наноструктурированных образцов.

Задачи:

  1. 1.       Установите микроскоп и запустите программное обеспечение. Установите консоль (с наконечником) и подведите наконечник к образцу.
  2. 2.       Исследуйте влияние параметров сканирования на качество изображения и производительность, например, коэффициент усиления ПИД, заданное значение (сила), амплитуда колебаний и скорость сканирования. Используйте статический и динамический режим.
  3. 3.       Создайте изображение 7 различных образцов (микроструктур, углеродных нанотрубок, поперечного сечения кожи, бактерии, маркировка CD, структуры ИС, бисера) за счет соответствующей оптимизации параметров.

 Основные термины:

  • Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
  • Потенциал Ленарда-Джонса
  • Изображение наноструктур
  • Режим статической силы, режим динамической силы.
  • Цепь обратной связи, сила, амплитуда колебаний

ПО в комплекте. Компьютер не предоставляется.

Задать вопрос

Нажимая кнопку «Отправить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных