Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Оборудование PHYWE (Германия)›Физика›Физика рентгеновских излучений›Рентгеновское исследование гексагональных кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шеррера
Рентгеновское исследование гексагональных кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шеррера
Артикул: P2541501
Цена: предоставляется по запросу
Принцип: Поликристаллическую циркониевую фольгу облучают рентгеновскими лучами. Полученные в результате метода Дебая-Шерера отражения фотографируют, а затем исследуют.
Задачи:
Основные термины:
|
← Назад