Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаФизика рентгеновских излученийРентгеновское исследование гексагональных кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шеррера

Рентгеновское исследование гексагональных кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шеррера

Артикул: P2541501

Рентгеновское исследование  гексагональных кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шеррера

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип:

Поликристаллическую циркониевую фольгу облучают рентгеновскими лучами. Полученные в результате метода Дебая-Шерера отражения фотографируют, а затем исследуют.

 

Задачи:

  1. Возьмите фотографии образца циркония по Дебаю-Шерреру.
  2. Изучите кольца Дебая-Шерера и назначьте их на соответствующие плоскости решетки.
  3. Определите постоянные решетки материала образца.
  1. Определите число атомов в элементарной ячейке образца.

 

Основные термины:

  • кристаллические решетки
  • сингонии
  • обратная решетка
  • индексы Миллера
  • структурная амплитуда
  • атомный форм-фактор
  • брэгговское рассеяние

Задать вопрос

Нажимая кнопку «Отправить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных