Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Оборудование PHYWE (Германия)›Физика›Физика рентгеновских излучений›Рентгеновское изучение гексагональных кристаллических структур / метод Дебая - Шерера
Рентгеновское изучение гексагональных кристаллических структур / метод Дебая - Шерера
Артикул: P2541505
Цена: предоставляется по запросу
Принцип
Поликристаллическая циркониевая фольга облучается рентгеновскими лучами. Полученные отражения Дебая-Шеррера фотографируются, а затем оцениваются.
Задание
- Сделайте фотографии Дебая-Шеррера образца циркония.
- Оцените кольца Дебая-Шеррера и отнесите их к соответствующим плоскостям решетки.
- Определите константы решетки материала образца.
- Определите число атомов в элементарной ячейке образца.
Основные термины
- Кристаллические решетки
- кристаллические системы
- взаимная решетка
- индексы Миллера
- амплитуда структуры
- атомный форм-фактор
- брэгговское рассеяние
← Назад