Навигация:Главная›Для ВУЗов, техникумов и ПУ›Оборудование PHYWE (Германия)›Физика›Физика рентгеновских излучений›Рентгеновское изучение кубических кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шерера
Рентгеновское изучение кубических кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шерера
Артикул: P2541405
Цена: предоставляется по запросу
Принцип
При облучении поликристаллических образцов рентгеновскими лучами возникает характерная дифракционная картина. Эти отражения Дебая-Шеррера фотографируются и затем оцениваются.
Задание
- Необходимо сделать фотографии Дебая-Шеррера порошкообразных образцов хлорида натрия и хлорида цезия.
- Кольца Дебая-Шеррера должны быть оценены и отнесены к соответствующим плоскостям решетки.
- Необходимо определить константы решетки образцов.
- Определить число атомов в элементарных ячейках каждого образца.
Основные термины
- Кристаллические решетки
- Кристаллические системы
- Реципрокная решетка
- Индексы Миллера
- Амплитуда структуры
- Атомный форм-фактор
- Брэгговское рассеяние
← Назад