Наверх
Навигация:ГлавнаяДля ВУЗов, техникумов и ПУОборудование PHYWE (Германия)ФизикаФизика рентгеновских излученийМетод исследования структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей/Метод Дебая-Шеррера (метод порошка)

Метод исследования структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей/Метод Дебая-Шеррера (метод порошка)

Артикул: P2541401

Метод исследования структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей/Метод Дебая-Шеррера (метод порошка)

Цена: предоставляется по запросу

Задать вопрос по оборудованию

Принцип:

В результате облучения поликристаллических образцов рентгеновскими лучами появляется характеристическая дифракционная картина. Эти отражения Дебая-Шерера фотографируют, а затем вычисляют

Задачи:

  1. Снимки Дебая-Шерера должны быть выполнены из порошкообразных образцов хлорида натрия и хлорида цезия.
  2. Вычисляют кольца Дебая-Шерера и присваивают соответствующим плоскостям решетки.
  3. Определить постоянные решетки образцов материалов.
  1. Определить число атомов в элементарной ячейке каждого образца.

 

Основные термины:

  • кристаллические решетки
  • кристаллические системы
  • взаимные решетки
  • индексы Миллера
  • структурная амплитуда
  • атомный форм-фактор
  • брэгговское рассеяние

Задать вопрос

Нажимая кнопку «Отправить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных